速跃芯仪

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SY1000集成电路测试系统

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SY1000集成电路测试系统
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SY1000集成电路测试系统

中小规模数模混合集成电路测试系统 | 高性价比解决方案

产品简介

SY1000是一款小型集成电路测试系统,可实现数字、模拟以及混合信号集成电路的功能和参数测试。系统适用于通用逻辑芯片、微处理器、小规模可编程器件、ADC/DAC等器件的研发验证、教学实验与小批量测试。

应用领域

  • 通用逻辑芯片测试
  • 微处理器芯片测试
  • 小规模可编程器件测试
  • ADC/DAC芯片测试
  • 混合信号集成电路测试
  • 高校集成电路教学实验

产品特点

  • 面向中小规模器件的高性价比平台
  • 支持数字、模拟与混合信号测试
  • 可配置数字测试通道与模拟采集资源
  • 支持功能测试和参数测试
  • 配套教学实验与程序开发资源

技术参数

产品定位 中小规模数模混合集成电路测试系统
测试对象 逻辑、微处理器、ADC/DAC、混合信号器件
典型场景 研发验证、教学实训、小批量测试
系统能力 功能测试、参数测试、测试程序开发
服务支持 设备交付、程序开发、技术培训