速跃芯仪

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SY2000集成电路测试系统

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SY2000集成电路测试系统
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SY2000集成电路测试系统

面向更复杂测试需求的升级型平台方案

产品简介

SY2000面向更复杂的集成电路测试需求,覆盖数字、模拟与混合信号器件的功能验证和参数测试,可用于科研验证、工程导入及产线前期测试方案建设。

应用领域

  • 混合信号芯片测试
  • 科研项目验证
  • 工程导入测试
  • 小批量生产测试
  • 高校实验室平台建设

产品特点

  • 平台化系统架构
  • 支持复杂器件测试需求
  • 测试资源可按项目灵活配置
  • 支持测试程序开发与交付
  • 适合科研到工程转化流程

技术参数

产品定位 升级型混合信号集成电路测试系统
测试对象 数字、模拟与混合信号芯片
典型场景 科研验证、工程导入、小批量测试
系统能力 功能测试、参数测试、多资源协同
服务支持 方案设计、程序开发、现场调试